kSA XRF 在線X射線熒光膜厚測試設備可以在線測量許多不同材料基底（例如：玻璃和太陽能電池組件）上的薄膜厚度。

這是一種用于測量光譜絕對反射率，L*a*b*成色值和生長速率的非接觸式測量設備。kSA SpectR 光譜反射率測試設備具有多種在線監控和過程控制的應用功能，包括垂直腔表面發射激光器（VCSEL），分布式布拉格反射器（DBR）和其他一些復雜的設備結構。該設備主要應用于監控測量sputtering，MBE和MOCVD等薄膜生產研究。

薄膜應力測試系統，又名薄膜應力計或薄膜應力測量系統！采用非接觸MOS激光技術；不但可以準確的對樣品表面應力分布進行統計分析，而且還可以進行樣品表面二維應力、曲率成像分析；并且這種設計始終保證所有陣列的激光光點始終在同一頻率運動或掃描，從而有效的避免了外界振動對測試結果的影響；同時大大提高了測試的分辨率；適合各種材質和厚度薄膜應力分析；

電池電極應力測試系統，采用多光束光學傳感器系統（kSA MOS）原位實時應力測量分析，可研究鋰離子電池反應動力學過程中或在正常使用過程中內部會產生應力，對其電化學性能的影響；即就是在充放電過程中鋰離子電池外殼表面的應力變化,得到了充放電循環中鋰離子電池電極表面的應力大小與電荷狀態的關系；進而分析充放電過程中應力變化的異同,即產生不可逆應力,充放電曲線不重合。

薄膜應力測試系統（kSA MOS Film Stress Measurement System），又名薄膜應力計或薄膜應力儀！ 采用非接觸MOS激光技術；不但可以對樣品表面應力分布進行統計分析，而且還可以進行樣品表面二維應力、曲率成像分析；并且這種設計始終保證所有陣列的激光光點始終在同一頻率運動或掃描，從而有效的避免了外界振動對測試結果的影響；同時大大提高了測試的分辨率；適合各種材質和厚度。