OLED發光效率測量系統

OLED發光效率測量系統

應用：
    有機發光器件OLED
    量子點LED
    鈣鈦礦LED等

主要測試功能：
        OLED效率測量/EQE測量，功率效率Lm/W 和電流效率 Cd/A；
        發射角度-光譜測量；
        光譜&顏色測量@發射角；
        CIE xyY和顯色指數CRI；
        可視角測量；
        IVL(電流—電壓—亮度)測量；
        PL光致發光和EL電致發光測量；
        p，s極性測量；

OLED發光效率測量系統主要技術規格：
        角度范圍：-85°~+85°；
        光譜范圍：360nm~880nm，分辨率1.2nm;

? 主要測量功能：
     * 大功率點MMP、FF、Voc、Isc、VS 光強，遷移率（I-V測試 & I-V-L測試，空間電荷限制電流SCLC法）
     * 載流子密度，載流子動力學過程（瞬態光電流法 TPC）
     * 載流子壽命，載流子符合動力學過程（瞬態光電壓/瞬態開路電壓法 TPV）
     * 載流子遷移率（暗注入瞬態法 DIT，單載流子器件&OLED）
     * 串聯電阻，幾何電容，RC時間（電壓脈沖法 Pulse Voltage）
     * 參雜密度，電容率，串聯電阻，載流子遷移率（暗態線性增加載流子瞬態法 Dark-CELIV）
     * 載流子遷移率，載流子密度（光照線性增加載流子瞬態法 Photo-CELIV）
     * 載流子復合過程，朗之萬函數復合前因子（時間延遲線性增加載流子瞬態法 Delaytime-CELIV）
     * 不同工作點的載流子強度，載流子遷移率（注入線性增加載流子瞬態法 Injection-CELIV）
     * 幾何電容，電容率（MIS線性增加載流子瞬態法 MIS-CELIV）
     * 陷阱強弱度，等效電路（阻抗譜測試 IS）