日本SAN-EI 50mm*50mm雙光太陽光模擬器,又稱雙光源超AA*太陽光模擬器，交付日本產業綜合技術研究所AIST使用；該設備采用雙燈高精密光學設計，光譜不匹配性優于5%，更加接近AM1.5G標準太陽光光譜，在很大程度上避免了光譜失配對測試結果的影響，而且有效光譜范圍300nm~1800nm，為深層次太陽能電池計量測試、研究和研發新一代太陽能電池提供有效手段；